一种芯片开短路检测方法

本发明提供了一种芯片开短路检测方法，所述恒流电源模块，通过运放LM324PWR的虚短虚断应用原理，得到一个恒流源输出，用于导通芯片内部二极管从而获取到二极管的正向导通电压；所述主控模块，用于控制模拟开关，通过AD采样模块得到开短路信息；所述模拟开关切换模块，用于换不同的IO测试开短路，分别测试上二极管以及下二极管的导通状态。本发明针对现有模组的开短路测试电路，成本高，电路复杂等问题。