存储器芯片的测试方法、装置及系统

本申请提出了一种存储器芯片的测试方法、装置及系统，其中，应用于第一存储器芯片的方法包括：在第一存储器芯片上电初始化后，获取第一存储区域中的配置信息；若配置信息为第一配置信息，基于第一存储器芯片内部的内建自测电路，进行第二测试项测试，且第二测试项测试过程中仅第一存储器芯片的电源和地对应的接口与第二晶圆测试机台对应的第二探针连接；其中，第一配置信息为第一晶圆测试机台对第一存储器芯片进行第一测试项测试后写入的。本方案可以减少第二测试项测试过程中所需的探针数量，提高测试的并行度，也可以大幅度减少晶圆测试所需时间，提升存储器芯片的测试效率。