针对RCD芯片中寄存器的验证系统

本发明公开了一种针对RCD芯片中寄存器的验证系统。为降低验证工作量和测试遗漏风险，本发明针对RCD芯片中寄存器的验证系统，至少包括验证环境层和待测试设计模块，验证环境层至少包括寄存器抽象层、寄存器访问模块、边带命令代理模块、CAB命令代理模块和DRAM命令代理模块；待测试设计模块包括边带接口、CAB接口和DRAM接口；边带命令代理模块和边带接口建立连接，CAB命令代理模块和CAB接口建立连接，DRAM命令代理模块和DRAM接口建立连接；寄存器访问模块与寄存器抽象层建立数据通路，寄存器访问模块还接收DRAM命令代理模块中的监视器从DRAM接口中采集和回传的MRW命令。本发明提高了验证效率和可靠性，实现不同配置通路之间的交叉验证。本发明适于芯片测试领域。