一种应用于安全芯片的差分错误分析测试方法和系统

本发明公开了一种应用于安全芯片的差分错误分析测试方法和系统，涉及信号分析传送领域，本发明通过采集多个差分信号线对的特征数据，对多个特征因素进行叠加综合分析，提高了分析的精准性；通过构建最终KNN分类模型，为后续分析提供了分类工具，简化了分析过程；通过对待分析安全芯片的特征数据进行分类，可以判断出待分析安全芯片是否存在差分错误，若存在，则可以及时进行调节；通过调节待分析安全芯片的特征数据，从而对待分析安全芯片的差分错误进行修正；将调节后的待分析安全芯片的特征数据与调节前的待分析安全芯片的特征数据进行对比，分析出待分析安全芯片的差分错误的出现原因。