堆叠芯片结构、集成电路封装件及其形成方法

AITNT
正文
推荐专利
堆叠芯片结构、集成电路封装件及其形成方法
申请号:CN202411051973
申请日期:2024-08-01
公开号:CN119028950A
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本文公开了用于前至前堆叠芯片/管芯的互连结构及其制造方法。示例性集成电路上系统(SoIC)包括第一管芯,第一管芯例如通过将第一管芯的第一前侧多层互连件的第一最顶部金属化层接合至第二管芯的第二前侧多层互连件的第二最顶部金属化层而与第二管芯前至前接合。通孔延伸部分穿过第一管芯的第一前侧多层互连件、穿过第一管芯的器件层、穿过第一管芯的背侧电源轨并且穿过载体衬底。背侧电源轨位于载体衬底和器件层之间,并且背侧电源轨可以是第一管芯的背侧多层互连件的部分。通孔可以连接至再分布层(RDL)结构。本申请的实施例还涉及堆叠芯片结构、集成电路封装件及其形成方法。
技术关键词
堆叠芯片结构 互连结构 多层互连 载体衬底 集成电路封装件 管芯 分布层结构 金属化 保护环 通孔 阻挡层 导电 电源 包裹 网络
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号