GaN 2DEG电阻模型精确提取方法、电子设备

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GaN 2DEG电阻模型精确提取方法、电子设备
申请号:CN202411054841
申请日期:2024-08-02
公开号:CN118821707A
公开日期:2024-10-22
类型:发明专利
摘要
本实施例提供的方案中一种GaN 2DEG电阻模型精确提取方法,其包括:设置GaN基2DEG器件的工艺参数和模型参数,得到所述GaN基2DEG器件的完整模型描述;基于所述GaN基2DEG器件的完整模型描述,提取所述GaN基2DEG器件中2DEG电阻的相关模型参数,从而实现了有效、精确地提取GaN接入区的2DEG电阻模型。
技术关键词
精确提取方法 测试结构 计算机可执行程序 电阻 传输线模型 参数 电子设备 曲线 存储器 处理器 间距 尺寸
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