eFuse烧调条件测试方法、烧调方法、装置、系统、介质及设备

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正文
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eFuse烧调条件测试方法、烧调方法、装置、系统、介质及设备
申请号:CN202411056366
申请日期:2024-08-01
公开号:CN118866065A
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
一种eFuse烧调条件测试方法、烧调方法、装置、系统、介质及设备。所述方法包括:获取待测试eFuse的目标结构特征数据;将所获取的目标结构特征数据,输入至预设机器学习模型;利用所述预设机器学习模型,对所获取的目标结构特征数据进行分析,得到所述待测试eFuse的最佳烧调条件。采用上述方案,可以提高eFuse烧调条件的测试效率。
技术关键词
条件测试方法 机器学习模型 烧调方法 数据 训练样本集 处理器 接触孔 电极 可读存储介质 存储器 电子设备 尺寸 计算机
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