一种基于AI的物联网测试方法、系统、终端及存储介质

本发明公开了一种基于AI的物联网测试方法、系统、终端及存储介质，所述方法包括：收集物联网设备和物联网系统的测试数据，并将测试数据存储在大数据平台中；获取应用场景和物联网系统的系统需求，利用人工智能算法生成全面的测试计划和测试用例；利用自动化测试工具，自动化执行测试用例，并向物联网设备发送测试指令；通过大数据分析和智能算法，对测试数据进行深度分析和挖掘，得出潜在问题和风险；根据分析结果，对物联网设备和物联网系统进行性能评估、稳定性评估和健壮性评估；根据评估结果，通过机器学习和深度学习算法推测所述物联网系统的优化改进方向。本发明实现了物联网测试的高覆盖度、高效率、高准确率和降低了测试成本。