存储器的稳定参数的校准方法、装置、设备和介质

本发明实施例提供了一种存储器的稳定参数的校准方法、装置、设备和介质，通过获取待测试程序；执行所述待测试程序，以使所述主控芯片对待测试存储器执行写操作或读操作；在所述待测试存储器的温度大于第一预设值或待测试存储器工作预设时间段的情况下，得到所述待测试存储器的稳定参数，以使所述待测试存储器采用所述稳定参数工作，本申请实施例中芯片可以内置低成本的DDR或者兼容更多型号的DDR，提高芯片本身的竞争力，而且可以通过提高DDR的兼容性，分散DDR型号停产的风险，提高产品竞争力，也可以在和DDR供货商谈判中提高话语权。