一种电源芯片、电源芯片测试系统及测试方法

本发明涉及测量和测试技术领域，具体涉及一种电源芯片、电源芯片测试系统及测试方法，该方法包括：获取电源芯片的输出电压数据；确定所述输出电压数据在各时刻的滤波权重；基于所述滤波权重，对所述输出电压数据中的噪声进行滤波，得到已滤波电压数据；基于所述已滤波电压数据，对所述电源芯片进行波纹测试。该方法在对电源芯片进行测试时，以已滤波电压数据作为计算数据，而已滤波电压数据在过滤噪声时尽可能的保留了波纹信息，因此能够使得电源芯片的性能测试更加准确。