DRAM的故障检测方法、装置、存储介质及电子设备

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正文
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DRAM的故障检测方法、装置、存储介质及电子设备
申请号:CN202411071360
申请日期:2024-08-06
公开号:CN119065879A
公开日期:2024-12-03
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了一种DRAM的故障检测方法、DRAM的故障检测装置、存储介质及电子设备,涉及计算机领域。本方案通过通过在PEI阶段获取DRAM的地址译码映射信息,并在DXE阶段利用这些信息进行故障检测,本技术方案能够精确地定位DRAM中出错的内存地址。一旦检测到内存地址出错,能够进一步解析出该地址对应的channel、rank、bank、chip、row和column等详细地址信息,为后续的Intel架构的计算机系统的内存故障修复提供了精确的依据,简化内存故障检测步骤和提高故障检测效率。
技术关键词
故障检测装置 故障检测方法 计算机存储介质 地址映射 译码 阶段 移动存储设备 内存控制器 冗余 电子设备 网络服务器 计算机系统 数据 解密 芯片 指令 主板 存储器
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