一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法

本发明公开了一种ONU光驱芯片突发响应时间ATE测试方法，其包括依次进行的步骤一、步骤二和步骤三，其中，步骤三包括：由ATE测试机先将ONU光驱芯片配置为突发闭环工作模式；然后，ATE测试机在预设合格突发响应时间内给ONU光驱芯片的BEN引脚输入周期性脉冲使能信号；接着，ATE测试机控制ONU光驱芯片的BEN引脚电平维持高电平，且ATE测试机获取此时的偏置电流值Ib2，并对偏置电流值Ib2进行判断。本发明通过现有的ATE测试机和相应的外围测试电路就能对ONU光驱芯片突发响应时间是否合格进行测试，测试硬件要求低。