谐振器测试装置、系统及方法

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谐振器测试装置、系统及方法
申请号:CN202411078939
申请日期:2024-08-07
公开号:CN118962295A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种谐振器测试装置、系统及方法中,基板上设置有加热器件、温度传感器,以及用于安装待测谐振器的第一安装部,用于安装驱动器的第二安装部。加热器件可以对基板上的局部区域进行加热,第一安装部位于加热区域内,第二安装部则避开加热区域,对安装在第一安装部的待测谐振器的环境温度进行控制时,可避免影响驱动器的环境温度,因此能够保证驱动器正常工作的同时,实现将驱动器和待测谐振器设置在同一基板,无需通过长的传输线进行传输信号,有效提高谐振器温度测试过程中信号的质量和稳定性,从而提高谐振器温度测试的准确性。
技术关键词
加热器件 谐振器 温度传感器 温控器 导热部件 驱动器 基板 功率 PID算法 信号 PCB板 测试方法 加热片 传输线 电源 铝片 外壳 内腔
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