一种线状缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

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一种线状缺陷检测方法、系统、设备及存储介质
申请号:CN202411081634
申请日期:2024-08-08
公开号:CN118941543A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种线状缺陷检测方法、系统、设备及存储介质,涉及线状缺陷检测技术领域,所述方法流程为:采用导向滤波的方式对原始图像进行方向性去噪,以得到线状缺陷滤波图像;采用局部增强的方式对线状缺陷滤波图像进行图像增强,以得到线状缺陷增强图像;采用边缘检测的方式对线状缺陷增强图像进行特征提取,以得到线状缺陷特征图像;采用缺陷方向性校验的方式对线状缺陷特征图像进行特征连接性校验,以得到线状缺陷检测结果。本发明首先去除原始图像本身的噪音,然后对局部线状缺陷进行数据增强,再对线状缺陷进行特征提取,最后结合线状缺陷的方向性以及距离对轻微截断的线状缺陷进行修正,解决了线状缺陷检测容易出现漏检和过检的问题。
技术关键词
线状缺陷 边缘轮廓 边缘检测单元 图像增强 校验单元 滤波单元 增强子 方差信息 可读存储介质 像素 处理器 线性 图像分割 计算机设备 存储器 对比度
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