一种LED芯片光学性能测试方法及系统

本发明属于LED芯片测试技术领域，具体是一种LED芯片光学性能测试方法及系统，其中，该LED芯片光学性能测试系统包括芯片定位判断模块、光源控制模块、光学测试分析模块、光照适宜性评估模块和可视化模块；本发明通过芯片定位判断模块将LED芯片的放置状况进行分析，在生成定位判断异常信号时提醒操作人员进行LED芯片的放置调整，在生成定位判断合格信号时通过光源控制模块使光源启动运行，光学测试分析模块采集LED芯片发出的光信号并进行处理分析以实现对LED芯片光学性能的自动且准确评估，且能够对光照适宜性状况和光照稳定性状况进行合理分析并及时反馈预警，显著降低光照因素对测试结果精准性带来的不利影响，智能化程度高。