一种集成针孔检测的薄膜表面缺陷检测方法

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一种集成针孔检测的薄膜表面缺陷检测方法
申请号:CN202411086135
申请日期:2024-08-08
公开号:CN118731036A
公开日期:2024-10-01
类型:发明专利
摘要
本发明涉及表面缺陷检测技术领域,且公开了一种集成针孔检测的薄膜表面缺陷检测方法,包括相机模组、图像处理模组、透射光源、反射光源、光源和相机控制模组以及待检测的不透明薄膜(后面简称为薄膜),所述透射光源和反射光源各种分别与光源和相机控制模组电性连接,所述光源和相机控制模组与相机模组电性连接。该集成针孔检测的薄膜表面缺陷检测方法,采用一反射一透射两种光源分时点亮,使用同一组相机进行同步触发采集,可直接获得反射光源和透射光源分别点亮下的带有待测表面常见疵点和针孔的交替面阵图像,通过人工智能算法可识别常见疵点,通过简单传统算法即可做到实时分辨针孔和亮斑。
技术关键词
相机模组 图像处理模组 针孔 控制模组 人工智能算法 相机曝光控制 待测表面 人工智能芯片 表面缺陷检测 透射光 面光源 面阵相机 铜箔 反射光 透明薄膜
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