摘要
一种基于残差网络模型的CMOS集约模型参数提取方法,利用蒙特卡罗方法生成足量参数集进行SPICE仿真,获得的模型训练数据集用于训练和验证残差网络模型。训练后的残差网络模型能够实现快速、精确的CMOS晶体管集约模型参数提取,克服手动拟合提取参数操作复杂、速度和精度低的缺陷。本发明的实现包括四个步骤:S1.利用蒙特卡罗方法生成CMOS集约模型参数集;S2.获得残差网络模型所需要的训练数据集;S3.训练残差网络模型;S4.利用残差网络模型提取集约模型参数。应用本发明可实现快速、精确的CMOS晶体管集约模型参数提取,有效解决手动拟合中的操作问题,有助于预测集成电路产品良率并缩短研发周期,为EDA软件的开发和完善提供帮助。
技术关键词
残差网络模型
模型参数提取方法
蒙特卡罗方法
晶体管
曲线误差
仿真软件
缩短研发周期
集成电路产品
数据
训练集
电压
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