一种半导体光罩使用情况确定方法及电子设备

本申请提供一种半导体光罩使用情况确定方法、电子设备和计算机可读存储介质，该方法包括：在第一界面中显示待测芯片中的待测元器件的标识；接收第一界面中的第一控件的第一操作；响应于第一操作，利用确定软件模块和工艺设计工具库，确定待测元器件的光罩使用情况，并在第二界面中显示待测元器件的光罩使用情况。基于该方法确定及计算待测芯片中待测元器件的光罩使用情况，能够高效且准确的计算得到待测芯片中待测元器件的光罩使用情况，且基于该方法计算时，计算时间短，从而提高了设计的迭代效率。