外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法

本发明提供一种外挂芯片测试系统和外挂芯片测试方法，其中外挂芯片测试系统包括：测试设备、主控芯片和外挂芯片；外挂芯片与测试设备分别与主控芯片通信连接，测试设备通过主控芯片对外挂芯片进行测试。本发明能够降低外挂芯片测试的复杂度以及测试产线的成本，并提高测试设备的测试效率。