芯片测试电路、方法和电子设备

本申请公开了一种芯片测试电路、方法和电子设备，涉及芯片领域，用于实现芯片的PDN测试。芯片测试电路包括：处理器、待测芯片、PMU和控制电路，处理器用于在每轮测试中，运行测试程序，通过第一总线向PMU发送第一调压信号；第一调压信号中包括电源通道的标识和第一电压，第一调压信号控制PMU向电源通道输出第一电压；控制电路检测到第一总线中的第一调压信号，通过第一总线向PMU发送第二调压信号，第二调压信号中包括电源通道的标识和第二电压，第二调压信号控制PMU向电源通道输出第二电压，每轮测试第二电压相对于第一电压减小的数值不同；处理器统计测试程序的运行结果，确定出测试成功时第二电压的最小值。