量子操作系统的驱动测试方法及装置

本申请实施例提供了一种量子操作系统的驱动测试方法及装置，驱动测试系统包括：测试控制器和信号采集器，测试控制器与信号采集器连接，信号发射器通过信号传输链路与目标量子芯片连接，信号发射器用于向目标量子芯片发射量子的驱动信号，信号采集器用于连接目标量子芯片，该方法包括：控制信号发射器向目标量子芯片发送目标驱动信号；通过信号采集器从目标量子芯片上采集目标量子芯片上产生的辐射信号，得到参考驱动信号；根据参考驱动信号相对于目标驱动信号的信号差别信息测试量子操作系统的量子驱动性能。通过本申请，解决了量子驱动性能的低温测试效率较低的问题，进而达到了提高量子驱动性能的低温测试效率的效果。