一种基于毫米波的微米级高精度绝对测距系统及方法

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一种基于毫米波的微米级高精度绝对测距系统及方法
申请号:CN202411100243
申请日期:2024-08-12
公开号:CN119001694B
公开日期:2025-10-24
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种基于毫米波的微米级高精度绝对测距系统及方法,包括:相位自适应稳相系统PASS的前期准备和参数设置;利用激光跟踪仪测试待测自由空间初始长度;对PASS频综设置扫频输出,并分别测量在含有或不含自由空间条件下各频点对应相位;通过扫频加点频高精度绝对测距算法计算自由空间绝对距离。本发明能够突破PASS相对测距局限,实现动态测量自由空间长度的目标,并且测量精度达到5um,从而很好地解决PASS动态测距范围受限的问题,并提高了PASS测量精度。
技术关键词
激光跟踪仪 混频器 测距方法 测距系统 发射天线 子系统 位移控制器 射频 信号 数字相关器 频率 低噪放大器 上位机软件 测距算法 耦合器 波长 衰减器 平台
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