一种提高ADC采样精度的电路及激光测距系统

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一种提高ADC采样精度的电路及激光测距系统
申请号:CN202411100623
申请日期:2024-08-12
公开号:CN118944666A
公开日期:2024-11-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种提高ADC采样精度的电路,通过ADC采样电路模块根据ADC采样时钟信号进行数据采集;主控电路模块与所述ADC采样电路模块连接,向ADC采样电路模块配置ADC采样时钟信号,并设置初始占空比,还用于读取所述ADC采样电路模块采集到的数据;主控电路模块与占空比控制电路模块连接,主控电路模块向其配置ADC采样时钟信号,检测由占空比控制电路模块生成的反馈时钟信号的占空比,根据反馈时钟信号的占空比自动调整ADC采样时钟信号的占空比。可以理解的是,该技术方案在使用时,若占空比出现偏差,主控会快速做出对时钟信号占空比的调整,电路简便且不需要补尝,能满足当前激光测距系统小体积、高精度的要求。
技术关键词
主控电路模块 占空比控制电路 ADC采样电路 反馈时钟信号 信号处理电路模块 激光测距系统 激光发射电路 采样电路模块 芯片 信号占空比 精度 探测器 小体积
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