高速自动键合场景中金丝质量要求的分析方法及系统

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高速自动键合场景中金丝质量要求的分析方法及系统
申请号:CN202411102314
申请日期:2024-08-12
公开号:CN119151865A
公开日期:2024-12-17
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电子工程领域领域,揭露了一种高速自动键合场景中金丝质量要求的分析方法及系统,所述方法包括:获得应用于高速自动键合场景的金丝样本,采取金丝样本的样本图像,对样本图像进行预处理,提取预处理样本图像的图像特征,分析金丝样本的表面参数;测量恒温下金丝样本的金丝电阻,计算金丝样本的金丝半径;分析金丝样本的杂质黑度和纯金黑度,构建金丝样本的黑度差‑杂质含量曲线,计算金丝样本的金丝纯度;分析高速自动键合场景中的金丝样本的机械性能需求,构建金丝样本的机械性能测试环境,计算金丝样本的机械性能参数,分析高速自动键合场景中的金丝质量分析报告。本发明可以提升高速键合的质量效果。
技术关键词
样本 机械性能参数 分析方法 场景 图像二值化技术 电阻 数据采集系统 光学显微镜 测试设备 恒温 分析模块 曲线 强度 边缘检测算法 兴趣 数值 报告 拉普拉斯 分析系统
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