集成芯片的寄生参数确定方法、设备及存储介质

本申请提供了一种集成芯片的寄生参数确定方法、设备及存储介质，涉及但不限于电子电路技术领域，方法包括基于预设的计算区域中各导体的多个轮廓坐标，确定导体区域和边界区域；在导体区域内对待预测的导体构建高斯面，并在高斯面上按照预设的采样间距进行均匀采样，得到多个采样点；获取物理信息神经网络模型；物理信息神经网络模型为对导体区域和边界区域采样得到的样本采样点进行模型训练得到的，样本导体区域的采样密度大于样本边界区域的采样密度；通过物理信息神经网络模型对高斯面上的采样点进行寄生参数预测，得到待预测的导体的寄生参数预测数据。本申请实施例在满足寄生参数精度要求的同时确保计算效率。