基于电磁平衡条件评估eMMC可靠性的读写测试装置及方法

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基于电磁平衡条件评估eMMC可靠性的读写测试装置及方法
申请号:CN202411103313
申请日期:2024-08-12
公开号:CN118918940B
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于电磁平衡条件评估eMMC可靠性的读写测试装置及方法,包括电磁平衡模块、读写模块和信号分析仪;将待测试的eMMC芯片与测试装置的读写模块相连;利用电磁平衡模块为eMMC芯片提供稳定的电磁平衡条件;借助读写模块对eMMC芯片进行读写操作;通过信号分析仪监测并记录读写操作期间eMMC芯片的信号波形和信号强度;根据信号分析仪记录的数据,评估eMMC芯片在电磁平衡条件下读写操作的可靠性。本发明采用电磁平衡条件下的读写操作来评估eMMC的可靠性,更准确地模拟实际使用环境下的操作条件,更全面地评估eMMC的可靠性,可以及早发现eMMC的读写操作问题,从而及时采取措施进行修复和优化,有助于提高eMMC产品的质量。
技术关键词
读写测试方法 信号分析仪 电磁 平衡电路 eMMC产品 模块 可编程芯片 波形 存储计算机程序 信号线路 功率因数 数据 电压 频率 模式 谐波 参数
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