一种附面层作用下基于自监督深度学习的波前畸变预测方法

AITNT
正文
推荐专利
一种附面层作用下基于自监督深度学习的波前畸变预测方法
申请号:CN202411106100
申请日期:2024-08-13
公开号:CN119180193A
公开日期:2024-12-24
类型:发明专利
摘要
一种附面层作用下基于自监督深度学习的波前畸变预测方法,包括:构建基于自监督深度学习的神经网络模型并进行训练,将信标光输入训练后的基于自监督深度学习的神经网络模型中,得到信标光波前畸变预测;训练过程为:将信标光信号利用ANSYS软件得到的附面层结果作为真值标签将真值标签送入衍射模型中得到实际接收信号Srecv;将4通道数据输入自监督深度学习的神经网络得到附面层的估计结果将估计结果送入衍射模型中,得到受附面层干扰的估计光信号利用估计光信号与实际接收信号Srecv计算损失;采用自监督训练的网络模型对附面层造成的相位畸变信息进行预测,有效地减轻了附面层效应引起的波前畸变,提高了耦合效率。
技术关键词
监督深度学习 神经网络模型 光波前畸变 光信号 ANSYS软件 信标 可读存储介质 上采样 训练设备 标签 阶段 预测系统 通道 解码 计算机 处理器 编码 湍流 数据
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号