基于局部-全局可见性分析的X光图像遮挡目标检测方法

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正文
推荐专利
基于局部-全局可见性分析的X光图像遮挡目标检测方法
申请号:CN202411106661
申请日期:2024-08-13
公开号:CN118968027B
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种局部‑全局可见性分析的X光图像遮挡目标检测方法。本发明使用YOLOv8,提取局部块特征,并计算多种局部的可见性mask,和局部的可见性特征。本发明计算局部块之间的全局关系,并计算多种全局的可见性mask,和全局的可见性特征。为了验证遮挡目标情况下,可见性mask估计的准确性,本方法在训练目标检测模型时,额外计算局部‑全局可见性mask损失,和遮挡得分梯度调整损失。本发明考虑了局部‑全局可见性mask损失,和梯度调整损失,可以有效分析目标的可见性mask,缓解遮挡目标的漏检。
技术关键词
预测类别 注意力模型 图像 标签 代表 注意力机制 特征值 像素点 真空杯 喷雾罐 索引 参数 元素 通道 塑料瓶 玻璃瓶 检测头 训练集
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