生成验证环境的方法与装置、验证方法、电子设备及介质

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正文
推荐专利
生成验证环境的方法与装置、验证方法、电子设备及介质
申请号:CN202411107456
申请日期:2024-08-12
公开号:CN118709643A
公开日期:2024-09-27
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种生成验证环境的方法与装置、验证方法与系统、电子设备及介质。该方法包括:获取待测对象,其中,待测对象包括:用于实现芯片的至少一个功能的待测的功能模块以及基于功能模块获取的与功能模块连接的接口;基于待测对象获取第一类,其中,第一类被配置为形成针对功能模块和接口的拓扑关系;以及基于第一类获取验证环境。本公开可以实现验证环境快速搭建、快速迭代,具有良好的扩展性与重用性。
技术关键词
待测对象 功能模块 接口 芯片验证方法 电子设备 验证系统 指针 处理器 关系 可读存储介质 批量 存储器 计算机
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