基于规则限制的定位液晶屏坏点方法、设备、存储介质

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推荐专利
基于规则限制的定位液晶屏坏点方法、设备、存储介质
申请号:CN202411107524
申请日期:2024-08-13
公开号:CN118762624B
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于规则限制的定位液晶屏坏点方法,包括以下步骤:采集点亮的液晶屏图像,根据液晶屏的分辨率调整相机分辨率的放大倍率;采集包含液晶屏的屏幕边缘以及承载液晶屏的背景工作台的图像;通过标定矩阵转换待检测区域所在坐标系并去除畸变;采用像素奇异性算法检测缺陷;限制定位缺陷点所在像素,并区分连续的相邻不良点所属像素;筛选不良像素;并对应到液晶屏坐标系;输出最终缺陷点检测结果。本发明公开的一种基于规则限制的定位液晶屏坏点方法,使用像素奇异性算法获取坏点的候选点点集,并基于规则限制定位每个候选点所在的屏幕像素;能检测亚像素级别的坏点,并且能判定坏点个数和面积,具有良好的检测稳定性和准确性。
技术关键词
液晶屏 像素 矩阵 面阵相机 分辨率 坐标系 环形算法 定位点 二值化阈值 图像 定位缺陷 检测缺陷 代表 显示屏坏点 屏幕 成像 定位设备
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