用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法

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推荐专利
用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法
申请号:CN202411108211
申请日期:2024-08-13
公开号:CN118882524A
公开日期:2024-11-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法,包括步骤1,对相机所拍摄的条纹图像进行计算得到截断相位;步骤2,将截断相位进行相位展开;步骤3,分别计算有测量目标的展开相位与无测量目标的展开相位,并得到两者的差;步骤4,根据两者的差值计算,得到测量目标的三维高度信息。该用于条纹投影轮廓术的GRNN优化二阶隐式相位高度映射法,能够有效获取相机全视场范围内每个像素坐标对应相位高度映射的参数,解决现有二次隐式相位高度映射法在部分区域可能出现无法有效获取参数的问题。
技术关键词
条纹投影 轮廓 相位展开算法 互补格雷码 相机 网络 参数 像素 图像 坐标 阵列 数据
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