芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质

本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种芯片测试系统、方法、装置、终端设备及可读存储介质，其特征在于，包括：探针台、测试仪；所述测试仪获得待测试芯片的待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息，其中，所述电平信息包括高电平、低电平，N≥1；所述测试仪对所述待测试信号在N个信号周期中每个比特位分别对应的电平信息进行数量统计，以确定最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量；所述测试仪根据所述最多连续高电平数量、以及最多连续低电平数量进行计算，获得所述待测试芯片的占空比；所述测试仪将所述待测试芯片的占空比发送给所述探针台。本发明实用性极高，使用简单，可以快速的、精准的测试芯片占空比。