二极管参数的预测方法和装置

本申请公开了一种二极管参数的预测方法和装置，属于二极管测试领域。所述二极管参数的预测方法，包括：获取待测二极管对应的第一参数，第一参数包括待测二极管在第一温度以及第一电流作用下的第一电参数；将第一参数输入至目标预测模型，获取目标预测模型输出的待测二极管对应的第二电参数；其中，第二电参数包括待测二极管在第二电流作用下的工作参数，第二电流大于第一电流，目标预测模型为基于训练样本训练得到的。本申请的二极管参数的预测方法，通过目标预测模型基于输入的小电流下的第一电参数预测得到芯片在大电流下的第二电参数，能够及时评估芯片在光伏应用端的电性能参数，有利于芯片的调整优化周期。