应用于泛半导体领域的故障处理建议方法及装置

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应用于泛半导体领域的故障处理建议方法及装置
申请号:CN202411109457
申请日期:2024-08-13
公开号:CN120821853A
公开日期:2025-10-21
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种应用于泛半导体领域的故障处理建议方法及装置,属于计算机技术领域。应用于泛半导体领域的故障处理建议方法,包括:基于大语言模型,根据用户输入的目标问题,对增强后的泛半导体领域的知识图谱进行基于思维链的检索,获取检索结果;目标问题用于获取对泛半导体领域的故障的处理建议;增强后的泛半导体领域的知识图谱,是将基于微调后的BERT模型对泛半导体领域的知识图谱中目标对象的名称及目标对象的描述文本进行向量化处理后得到的目标向量,与目标对象进行关联后得到的;基于检索结果,输出目标问题对应的处理建议。本申请提供的应用于泛半导体领域的故障处理建议方法及装置,能输出更有效的故障处理建议。
技术关键词
建议方法 半导体 大语言模型 图谱 对象 文本 非暂态计算机可读存储介质 语句 波束 框架模板 索引算法 处理器 计算机程序产品 实体 摘要 在线 同义词 输出模块 关系
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