一种测量系统的多维度智能分析方法、装置及存储介质

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正文
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一种测量系统的多维度智能分析方法、装置及存储介质
申请号:CN202411113242
申请日期:2024-08-14
公开号:CN119090195A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本申请提出了一种测量系统的多维度智能分析方法、装置及存储介质,该方法包括:根据目标生产场景,确定测量系统的多个分析维度,并制定测量系统的分析计划;根据多个分析维度和所述分析计划,生成测量系统的分析任务;设置测量系统的分析参数;根据分析任务和分析参数,调用测量系统采集并测量目标生产场景中的相关生产数据,得到测量数据;在多个分析维度上分别对测量数据进行分析,并根据所有分析结果对测量系统进行综合评价。本申请不仅提高了测量系统分析的效率和准确性,而且适用于各种应用场景,并可以确保采集数据的可靠性和准确性。
技术关键词
智能分析方法 数据 场景 数学模型 计划 线性 可读存储介质 计算机装置 参数 日志 存储器 处理器 指令
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