一种用于批量内存条独立控温测试的装置

本发明属于内存测试技术领域，具体涉及一种用于批量内存条独立控温测试的装置，包括测试主板，设置有多个相互并列的内存条测试工位；内存条测试工位用于安装待测试的内存条；多个调温片呈扁条状，并与多个内存条测试工位交替排列；在调温片的相对两侧具有调温元件，内存条安装后，调温元件与内存条的内存芯片贴近并能够对其调温；所述调温元件为电热膜或制冷元件。本方案中将调温片置于内存插槽的两侧，使调温片贴近内存条上的内存芯片，对内存芯片快速、均匀、精确的控温；内存条导向块提高内存条的定位精度，在内存条与调温片间距很小时仍能正常插拔内存条；调温片采用PCB板作为支撑结构并代替线缆，同时使调温片整体厚度降低。