摘要
本发明涉及一种压敏电阻失效寿命阈值确定方法及装置,属于设备测试技术领域,其中,该压敏电阻失效寿命阈值确定方法包括:基于PCA算法将压敏电阻测试数据集的维度降至二维,得到第一数据矩阵;基于孤立森林算法确定第一数据矩阵中的所有异常测试数据;基于第一数据矩阵中的所有异常测试数据,确定压敏电阻的失效寿命阈值。本发明实现了压敏电阻失效寿命阈值的确定,进而提高了压敏电阻使用时的安全性。
技术关键词
压敏电阻失效
矩阵
PCA算法
数据
孤立森林算法
贡献率
寿命
并联电容
设备测试技术
元素
特征值
漏电流
变量
处理器
非线性
可读存储介质
存储器
电子设备