一种压敏电阻失效寿命阈值确定方法及装置

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一种压敏电阻失效寿命阈值确定方法及装置
申请号:CN202411121042
申请日期:2024-08-15
公开号:CN118966004A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种压敏电阻失效寿命阈值确定方法及装置,属于设备测试技术领域,其中,该压敏电阻失效寿命阈值确定方法包括:基于PCA算法将压敏电阻测试数据集的维度降至二维,得到第一数据矩阵;基于孤立森林算法确定第一数据矩阵中的所有异常测试数据;基于第一数据矩阵中的所有异常测试数据,确定压敏电阻的失效寿命阈值。本发明实现了压敏电阻失效寿命阈值的确定,进而提高了压敏电阻使用时的安全性。
技术关键词
压敏电阻失效 矩阵 PCA算法 数据 孤立森林算法 贡献率 寿命 并联电容 设备测试技术 元素 特征值 漏电流 变量 处理器 非线性 可读存储介质 存储器 电子设备
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