用于芯片测试的方法及装置、电子设备

AITNT
正文
推荐专利
用于芯片测试的方法及装置、电子设备
申请号:CN202411122241
申请日期:2024-08-15
公开号:CN118964205A
公开日期:2024-11-15
类型:发明专利
摘要
本申请涉及芯片测试技术领域,公开一种用于芯片测试的方法,包括:获取测试流程文件;将获取到的测试流程文件转换为配置文件;解析配置文件,以使待测芯片执行与配置文件相对应的测试指令。实现了测试脚本的自动化执行和结果验证。在测试脚本发生变化时,只需重新运行获得测试流程文件,并将获取到的测试流程文件转换为配置文件,主控芯片就可以解析配置文件,使得待测芯片执行测试指令并输出结果。减少了重新编程的工作量和时间成本,提高了芯片测试效率。本申请还公开一种用于芯片测试的装置及电子设备。
技术关键词
待测芯片 指令 嵌套结构 电子设备本体 芯片测试效率 芯片测试技术 结构封装 脚本 主控芯片 处理器 程序 工作量 编辑 编程 存储器
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种定时器处理方法、装置、设备和存储介质
内核虚拟机模块 虚拟机控制结构 物理 核心 模式
2
一种基于动态筛选与随机替换的Python字节码混淆方法和系统
安全性需求 敏感关键词 混淆方法 动态 指标
3
电路板布线的优化方法
神经网络模型 数据 电路板布线技术 指令 阶段
4
大模型推理方法、设备及存储介质
推理方法 金字塔结构 解码技术 文本 代表
5
一种多天气室外图像生成方法、系统、设备及存储介质
图像生成方法 光斑 亮度 天气 对象
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号