芯片的异常确定方法、系统、装置及电子设备

本发明公开了一种芯片的异常确定方法、系统、装置及电子设备。其中，该方法包括：确定预定芯片待运行的目标工况；获取目标工况下对应的电路参数，其中，电路参数包括多个模拟点位分别对应的参数，电路参数为运行目标工况下的预定芯片后，采集得到的；依据电路参数与预定仿真参数，得到异常确定结果，其中，预定仿真参数为模拟运行目标工况下的仿真电路得到的，仿真电路为对预定芯片进行逆向分析得到的，多个模拟点位进行逆向分析过程中选定的。本发明解决了相关技术中，难以准确确定芯片的输出数据是否为异常数据的技术问题。