一种芯片的固件问题定位方法、装置、设备及存储介质

本发明公开了一种芯片的固件问题定位方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片开发技术领域，该方法应包括：获取待验证芯片的原始激励文件；将原始激励文件中的文本内容转换为预设数据格式的可编译数据结构；将可编译数据结构中预设位置的元素内容替换为目标元素内容，得到目标数据结构；根据目标数据结构和预设编程模板，生成二进制测试文件，并将二进制测试文件下载到待验证芯片；触发待验证芯片执行二进制测试文件，得到原始激励文件对应的固件问题验证报告；本发明通过将复现问题的测试激励转换为编译器可识别的数据结构，能够调整测试激励并转换为芯片可识别的二进制文件，实现芯片运行环境的自动适配，提高了固件问题的定位分析速度。