绝缘子污秽度的检测方法、装置、存储介质和电子设备

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推荐专利
绝缘子污秽度的检测方法、装置、存储介质和电子设备
申请号:CN202411125139
申请日期:2024-08-16
公开号:CN119024112A
公开日期:2024-11-26
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种绝缘子污秽度的检测方法、装置、存储介质和电子设备,该方法包括:采用红外成像技术获取当前时刻下绝缘子的红外图像信息;采用激光诱导击穿光谱技术获取绝缘子的光谱信息,光谱信息至少包括当前时刻下绝缘子的原子光谱信息;通过卷积神经网络的深度学习模型,对红外图像信息和光谱信息进行信息提取与融合,得到绝缘子污秽数据,绝缘子污秽数据包括绝缘子的灰度数据和绝缘子的原子数据;根据绝缘子的污秽数据确定绝缘子的污秽等级,其中,绝缘子的污秽度与绝缘子的污秽等级成正比,该方法可以将二维图像信息与元素光谱两类信息进行融合,从图像的物理信息与元素的化学组成两类特征中,更加准确的对污秽等级进行分类。
技术关键词
绝缘子污秽 激光诱导击穿光谱技术 深度学习模型 多源信息融合 数据 红外成像技术 阵列 预处理算法 深度学习算法 连续投影算法 可读存储介质 二维图像信息 电子设备 分层方法 平滑算法 校正算法 支持向量机
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