一种基于注意力机制的设备缺陷定位与识别方法

本发明公开了一种基于注意力机制的设备缺陷定位与识别方法，属于缺陷定位与识别领域，一种基于注意力机制的设备缺陷定位与识别方法包括以下步骤：S1.收集目标设备的多样化图像数据，包括正常图像和包含不同照明条件、视角和背景各种缺陷的图像，对图像进行预处理，并进行数据增强；S2.设计注意力机制模型，构建卷积神经网络基础，集成注意力机制模块；S3.设计小样本学习算法，进行迁移学习和数据增强；S4.进行模型训练，分阶段训练模型，进行微调和优化，准确分类和精确定位缺陷；S5.使用训练好的模型进行图像推理，生成定位框和类别标签，并可视化结果和生成报告。