一种激光开槽槽型调试方法及系统

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一种激光开槽槽型调试方法及系统
申请号:CN202411127965
申请日期:2024-08-16
公开号:CN118635681B
公开日期:2024-10-29
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种激光开槽槽型调试方法及系统,旨在提高激光开槽工艺的精度和效率,尤其适用于半导体制造领域。该方法通过晶圆识别、特征提取、槽型特征输入、激光参数设置、光斑调整、开槽和检查步骤,实现激光开槽过程的自动化、智能化调试,提高开槽质量和生产效率。通过引入粒子群优化算法PSO和卷积神经网络CNN等先进技术,本发明不仅能够自动优化激光参数,保证槽型的高质量和一致性,还能够实现对光斑的精确调整和槽型的实时检测和评估,从而全面提升激光开槽工艺的整体水平。
技术关键词
调试方法 中央处理器 空间光调制器 光斑 能量分布特征 邻居像素点 卷积神经网络模型 二分之一波片 粒子群优化算法 反射镜 图像 激光设备 边缘检测算法 扫描设备 开槽工艺 引入粒子群优化 晶圆 调试系统
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