一种芯片测试分选装置的校准测试系统

本发明公开了一种芯片测试分选装置的校准测试系统，涉及半导体分选技术领域，所述系统包括：实时路径采集模块，用于部署实时位置传感器，获取实时路径位置信息；速度信息提取模块，用于交互装置动作控制端，获取路径速度信息；定位比对校准模块，用于基于路径速度信息获取理想路径位置信息，与实时路径位置信息进行比对校准；图像采集校准模块，用于获取标准芯片，用校准后的装置采集图像，获取标定芯片图像，进行图像采集校准；分选判别优化模块，用于获取典型芯片系列，进行典型检测测试，基于结果优化分选判别，优化后的装置用于芯片测试分选。进而达成提高校准效率，提供自适应校准周期，提高分选质量的技术效果。