一种测试设备、测试系统、测试方法及测试装置

本说明书公开一种测试设备、测试系统、测试方法及测试装置，本说明书提供的测试设备中设有可以对向待测MCU供电的目标电源进行控制的FPGA芯片，在实际应用中，可以根据实际需求，在该FPGA芯片中配置不同的测试逻辑程序，以实现对不同类型的待测MCU进行灵活测试的需求，而且，通过该测试设备中的FPGA芯片可以产生高频的时钟信号，以此可以保证对待测MCU进行电压毛刺故障注入时在时间上的准确性，以进一步地保证待测MCU的测试效果。