分光分析装置以及分光分析方法

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正文
推荐专利
分光分析装置以及分光分析方法
申请号:CN202411134214
申请日期:2024-08-19
公开号:CN119534402A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种分光分析装置以及分光分析方法。本发明涉及的分光分析装置(1)具有:照射部(10),其使照射光向被测定对象照射;受光部(40),其接受基于照射光的来自被测定对象的反射光;以及控制部(80),其基于反射光而对被测定对象的光学特性进行分析,控制部(80)获取包含将照射光向被测定对象引导的观察窗(W)在内的测定环境的环境信息,根据环境信息而对表示光学特性的参数进行校正。
技术关键词
分光分析装置 分光分析方法 反射光 对象 观察窗 模型更新 校正 受光部 基准 参数 变量 通知 指标
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