一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法

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正文
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一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法
申请号:CN202411134775
申请日期:2024-08-19
公开号:CN119198793B
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种电子能量损失谱的批量信息处理及成像方法,属于电子能量损失谱信息处理领域。涉及电子能量损失谱的特征提取和分析,主要用于纳米材料的特征信息分析。通过集成幂律背底扣除算法、傅里叶比率解卷积去多重散射算法、多阶高斯峰背底拟合算法、峰值积分算法等批处理算法,可以有效的解决电子能量损失谱处理难度大、处理效率低的问题,为更加广泛的技术拓展提供支持。
技术关键词
信息处理 成像方法 批量 电子 计算机程序指令 二维傅立叶变换 校正 比率 衰减特征 积分算法 基线 图像 能量采集 拟合算法 特征值 损耗 信号 存储结构
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