一种芯片验证方法及系统

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一种芯片验证方法及系统
申请号:CN202411139942
申请日期:2024-08-19
公开号:CN119089836A
公开日期:2024-12-06
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种芯片验证方法及系统,所述方法可以获取测试用例,测试用例包括芯片运算核的多个运算任务。在总内存区域中设置寄存器传输级模块的子内存区域和指令内存区域,在总内存区域中,多个子内存区域之间不重叠,子内存区域与指令内存区域不重叠。再根据测试用例和子内存区域设置运算任务的寄存器配置信息,寄存器配置信息包括内存起始地址和内存容量。基于寄存器配置信息生成运行指令,并将运行指令写入指令内存区域。通过寄存器传输级模块在指令内存区域读取运行指令,以及基于运行指令执行运算任务,以得到运算任务的运行结果。所述方法可以实现异步并行多任务模式,解决异步并行多任务模式下不同运算任务之间的地址重叠问题。
技术关键词
芯片验证方法 内存 指令 计时器 芯片验证系统 控制组件 多任务 功能模块 数据 报告 模式 信号
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