一种基于MEMS芯片的压电PMUT及其制备方法

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一种基于MEMS芯片的压电PMUT及其制备方法
申请号:CN202411365970
申请日期:2024-09-29
公开号:CN120091752A
公开日期:2025-06-03
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体工艺技术领域,尤其涉及一种基于MEMS芯片的压电PMUT及其制备方法,包括衬底,所述衬底具有相对的正面及背面,所述衬底正面形成压电层,所述衬底贯穿开设背腔,在所述压电层表面形成结构层,所述结构层的厚度大于压电层中压电薄膜的厚度,使中性面位于所述结构层横向投影面积范围内;制备方法包括:准备衬底;在衬底的正面生长压电层;刻蚀压电层,使压电层图形化;在图形化后的压电层表面生长结构层;刻蚀结构层,使结构层图形化;贯穿刻蚀衬底,形成背腔。本发明采用氧化硅作为结构层,代替传统的顶硅,氧化硅的杨氏模量低,工艺应力低,可以有效降低谐振频率,利于低频器件的制造。
技术关键词
MEMS芯片 刻蚀衬底 压电薄膜 氧化硅 槽体 半导体工艺技术 正面 环形阵列 干法工艺 氮化硅 湿法工艺 六边形 双层结构 层叠 谐振 应力 频率
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