一种激光芯片热沉图像优化处理方法、系统、设备以及介质

本发明涉及一种激光芯片热沉图像优化处理方法、系统、设备以及介质，其方法包括：从热沉图像中识别并提取缺陷子图；重构缺陷子图的像素值以均衡灰度级分布，并引入顶帽变换和滤波器来优化调整缺陷子图，输出优化处理后的缺陷子图；对优化处理后的缺陷子图进行至少一种图像增强处理；响应于用户的融合指令，将增强后的缺陷子图与选定的背景图像进行融合，以实现单个增强后的缺陷子图融合到背景图像的多个区域或者多个增强后的缺陷子图融合到背景图像的单个区域。本发明通过精准识别、优化调整、增强处理以及灵活融合等操作，显著提升了激光芯片热沉图像的处理效果，为激光芯片行业的缺陷检测、质量控制以及工艺改进等环节提供了强有力的技术支持。